Laboratoire

SSEP est équipé d’un parc d’appareils de laboratoire spécifiques à l’électronique de puissance indispensables dans les phases d’étude, de mise au point et de pré-qualification de carte ou de boîtier électronique.

Afin d’optimiser l’exploitation des appareils et d’en améliorer l’ergonomie, des interfaces graphiques LABVIEW ont été développées pour certains appareils.

La caractérisation de composants

RLC METERS 10Hz – 500MHz

  • Inductances différentielle : courbe fréquentielle d’inductance avec DC bias, courbe d’impédance (ρ,φ), capacité parasite
  • Inductance de mode commun : courbe d’impédance (R,X), capacité parasite, self de fuite
  • Transformateur : Inductance magnétisante avec ajout de DC bias, capacité parasite, self de fuite
  • Ferrite : courbe d’impédance (R,X)
  • Capacités: courbe fréquentielle de capacité, courbe d’impédance (ρ,φ), courbe d’ESR, courbe de tangente delta
  • TVS : capacité parasite
  • Composants CMS et à piquer
Capture RLC mesure
Capture RLC mesure
Capture RLC mesure DCBIAS
Capture RLC mesure DCBIAS

La caractérisation de filtres

VNA30Hz – 6GHz

  • Pertes d’insertion (1/S21)
  • Filtres différentiel avec utilisation de balun avec ajout de DC bias
  • Filtre de mode commun, en π ou T avec ferrite de puissance avec ajout de DC bias
VNA_S parameters
VNA_S parameters

La mise au point fonctionnelle

VNA10Hz – 6GHz

  • Mesure des performances des boucles de régulation (marge de phase et marge de gain)
  • Mesure des impédances d’entrée et de sortie de convertisseurs statiques
VNA BODE
VNA BODE

SPECTRUM ANALYZER 10Hz – 500MHz

  • Mesure de pont: VGS high side
  • Mesure pertes en conduction et commutation dans les transistors
MOSFET losses
MOSFET losses

OSCILLOSCOPE 500MHz

  • Analyse harmonique de courant de lignes (40 harmoniques, THD)
  • Analyse subharmoniques et inter-harmoniques dans une bande 150kHz
  • Analyseur de puissance 500 ksample/s
VNA current harmonics
VNA current harmonics

La mesure thermique

Caméra fixe de laboratoire 640X480 pixel IR, 125Hz, MFOV 0.6mm

  • Comparaison de carte : layout de hot spots thermiques
  • Plot des transitoires de zones identifiées
  • Enregistrement vidéo
CAMERA THERMIQUE
CAMERA THERMIQUE

La pré-qualification CEM

EMC SPECTRUM ANALYZER

  • Mesure des émissions conduites sur carte ou boîtier électronique avec RSIL DO160
  • Recherches en champs proche des sources perturbatrices, identification de leur nature E/H et de leur amplitude relative
EMC anlayzer FPL1003
EMC anlayzer FPL1003

Alimentations et charges électroniques

SOURCE AC/DC 240VAC 10A 5kHz 1kVA

SOURCE DC 500V/10A 1,5kW

CHARGE ELECTRONIQUE 500V 60A 1,2kW

CHARGE ELECTRONIQUE MODULAIRE 80V 20A 250W (X2)

SOURCE ET CHARGES
SOURCE ET CHARGES
SOURCE ET CHARGES
SOURCE ET CHARGES
Logo exail
Logo Steel
Logo Saft
Logo Integra
Logo Safran
Logo ThalesAlenia
Logo Airbus
EMC anlayzer FPL1003
Capture RLC mesure