Laboratoire
SSEP est équipé d’un parc d’appareils de laboratoire spécifiques à l’électronique de puissance indispensables dans les phases d’étude, de mise au point et de pré-qualification de carte ou de boîtier électronique.
Afin d’optimiser l’exploitation des appareils et d’en améliorer l’ergonomie, des interfaces graphiques LABVIEW ont été développées pour certains appareils.
La caractérisation de composants
RLC METERS 10Hz – 500MHz
- Inductances différentielle : courbe fréquentielle d’inductance avec DC bias, courbe d’impédance (ρ,φ), capacité parasite
- Inductance de mode commun : courbe d’impédance (R,X), capacité parasite, self de fuite
- Transformateur : Inductance magnétisante avec ajout de DC bias, capacité parasite, self de fuite
- Ferrite : courbe d’impédance (R,X)
- Capacités: courbe fréquentielle de capacité, courbe d’impédance (ρ,φ), courbe d’ESR, courbe de tangente delta
- TVS : capacité parasite
- Composants CMS et à piquer
La caractérisation de filtres
La mise au point fonctionnelle
VNA10Hz – 6GHz
- Mesure des performances des boucles de régulation (marge de phase et marge de gain)
- Mesure des impédances d’entrée et de sortie de convertisseurs statiques
SPECTRUM ANALYZER 10Hz – 500MHz
- Mesure de pont: VGS high side
- Mesure pertes en conduction et commutation dans les transistors
OSCILLOSCOPE 500MHz
- Analyse harmonique de courant de lignes (40 harmoniques, THD)
- Analyse subharmoniques et inter-harmoniques dans une bande 150kHz
- Analyseur de puissance 500 ksample/s